Влияние времени отжига на структурные и электрофизические свойства пленок ферромолибдата стронция

Старухина, С.С. и Ильина, Т.С. и Быков, А.С. и Каланда, Н.А. и Петров, А.В. и Киселев, Д.А. (2025) Влияние времени отжига на структурные и электрофизические свойства пленок ферромолибдата стронция. Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов (17). С. 182-189. ISSN 1999-4133

PDF - Опубликованная версия
2MB

Абстракт

Тонкие пленки ферромолибдата стронция Sr2FeMoO6 представляют собой перспективный материал для спинтроники. Для всестороннего изучения взаимосвязи между структурой, электрофизическими характеристиками и магнитными свойствами пленок, полученных методом ионно-лучевого распыления на подложках Al2O3 с последующим восстановительным отжигом при температуре 900°С, был применен комплекс современных микроскопических и спектроскопических методов. В частности, рамановская спектроскопия, атомно-силовая микроскопия, токопроводящая микроскопия, кельвин-зондовая и магнитносиловая микроскопия позволили детально исследовать влияние продолжительности отжига (0,5; 1 и 1,5 часа) на ключевые параметры материала. Установлено, что длительность отжига оказывает существенное влияние на шероховатость поверхности, электрофизические характеристики и, что особенно важно, на формирование магнитной доменной структуры пленок Sr2FeMoO6. Анализ полученных данных выявил, что оптимальные структурные характеристики достигаются при отжиге в течении 1 часа, в то время как наилучшая магнитная доменная структура наблюдается для образцов, подвергнутых отжигу в течении 1,5 часов. Данные результаты имеют важное значение для оптимизации процесса синтеза пленок Sr2FeMoO6 с улучшенными характеристиками, что, в свою очередь, способствует более эффективному применению этого материала в различных спинтронных устройствах

Абстракт (англ.)

Thin films of strontium ferromolybdate Sr2FeMoO6 are a promising material for spintronic applications. To comprehensively study the relationship between structure, electrophysical properties, and magnetic characteristics of films deposited by ion-beam sputtering on Al2O3 substrates followed by reductive annealing at 900°C, a set of modern microscopic and spectroscopic techniques was employed. Specifically, Raman spectroscopy, atomic force microscopy, conductive microscopy, Kelvin probe force microscopy, and magnetic force microscopy were used to investigate in detail how different annealing durations (0.5, 1, and 1.5 hours) affect key parameters of the material. It has been found that the duration of annealing significantly influences the surface roughness, electrophysical properties, and most importantly, the formation of magnetic domain structures in Sr2FeMoO6 films. Analysis of the obtained data revealed that optimal structural characteristics are achieved after annealing for 1 hour, while the best magnetic domain structure is observed in samples subjected to annealing for 1,5 hours. These results are important for optimizing the synthesis process of Sr2FeMoO6 films with improved characteristics, which contributes to more efficient use of this material in various spintronic devices

Тип объекта:	Статья
Сведения об авторах:	Старухина Софья Сергеевна – аспирант 1 года обучения кафедры материаловедения полупроводников и диэлектриков, ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский технологический университет «МИСИС» Ильина Татьяна Сергеевна – к.ф.-м.н., старший научный сотрудник кафедры материаловедения полупроводников и диэлектриков, ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский технологический университет «МИСИС» Быков Александр Сергеевич – к.т.н., доцент кафедры материаловедения полупроводников и диэлектриков, ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский технологический университет «МИСИС» Каланда Николай Александрович – д.ф.-м.н., доцент, ведущий научный сотрудник лаборатории физики магнитных материалов ГО «НПЦ НАН Беларуси по материаловедению» Петров Александр Владимирович – к.ф.-м.н., доцент, старший научный сотрудник лаборатории физики магнитных материалов ГО «НПЦ НАН Беларуси по материаловедению» Киселев Дмитрий Александрович – к.ф.-м.н., заведующий кафедрой материаловедения полупроводников и диэлектриков, ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский технологический университет «МИСИС»
Ключевые слова:	ленки ферромолибдата стронция, сканирующая зондовая микроскопия, вольт-амперные характеристики, магнитно-силовая микроскопия.
Ключевые слова (англ.):	strontium ferromolybdate films, scanning probe microscopy, I-V characteristics, magnetic force microscopy
Категории:	5 Математика. Естественные науки 5 Математика. Естественные науки > 53 Физика 5 Математика. Естественные науки > 53 Физика > 539 Строение материи > 539.2 Свойства и структура молекулярных систем > 539.21 Свойства твердого тела. Свойства молекулярных систем
Подразделения:	Университеты > Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС"», г. Старый Оскол. Старооскольский технологический институт им. А.А. Угарова (филиал)
ID Code:	15600
Deposited On:	30 Июн 2026 09:46
Последнее изменение:	01 Июл 2026 04:56

Repository Staff Only: item control page